LMS Test.Lab MIMO Stepped Sine Testing　MIMOステップサイン試験

LMS Test.Lab Stepped Sine Testingは、モーダル解析に用いられる多点入力/多点出力の周波数応答関数を測定するため、多点入力のステップサイン加振を準備します。

構造体をステップサインで加振することにより、LMS Test.Lab MIMO Stepped Sine Testingは、サイン加振の高いSN比と、フロントエンド制御の入力荷重を組み合わせることで、低減衰構造に対して適切な加振を与えることができます。MIMOステップサイン試験中に、平均値間で異なる位相条件の複数のサインスィープ加振を行うことにより、正確な周波数応答関数が得られます。正確なサイン加振は、リーケージのない応答スペクトルをもたらし、同時にステップサイン加振前のシステム同定ステップは、加振レベルの制御と24ビットA/Dコンバータのダイナミックレンジ拡大に役立ちます。高調波ひずみスペクトルと参照プロファイルに従った加振レベルの制御は、構造体の非線形性を理解する上で手掛かりとなります。

異なるタイプのレベル制御が可能な最大16の加振器が利用可能です。一定電圧レベルの加振器は、開ループ条件下での非線形性の評価に用いられます。入力荷重の振幅と位相の制御では、ステップ位相の加振中に、FRFマトリックス反転に特異値分解を用いることで、特別なMIMO FRFベースの制御アルゴリズムにより、位相制御の閉ループを高精度に行うことができます。制御/加振レベルは、それぞれ一定振幅にセットすることや、表形式の基準スペクトルに基づいてセットすることができます。

周波数レンジは、線形または対数刻みのいずれも可能です。複数の周波数レンジ機能により、共振点付近では必要に応じて細かい周波数分解能とし、それ以外では時間節減のため粗い分解能とすることができます。これらの周波数レンジは、連続した応答スペクトルを得るために連結することができます。

LMS Test.Lab MIMO Stepped Sine Testingは、LMS Test.Lab Operational Deflection Shapes and Time Animation、LMS Test.Lab Modal Analysis、またはLMS Test.Lab Geometryと組み合わせることで、より迅速なデータの解釈と分析が可能になります。これらアプリケーションは、スタンドアロンのデータ分析環境としても、LMS Test.Lab MIMO Stepped Sine Testingのアドインとしても利用可能です。

• 最大16点加振までをサポート
• 振幅と位相の制御：　D/Aからの出力電圧、入力、応答
• 閉ループ制御
• チャンネル毎にアボートレベルの設定が可能
• 測定関数：　スペクトル、周波数応答関数（H1, H2, Hv）、コヒーレンス、オートパワー、クロスパワー、全高調周波歪
• FFTを行わないのでリーケージのないスペクトルを測定可能
• 時間軸データの同時測定
• DACシャットダウンボタンによる緊急停止